科目名	回路設計自動化特論
単位数	2.0
担当者	情報工学専攻　教授　市原　英行、講師　稲木　雅人
履修時期	後期
履修対象	1、２年次
講義形態	講義
講義の目的	半導体微細加工技術の進展に伴い、様々な電子機器にLSIシステム（1つあるいは少数の集積回路で実現されるシステム。SoCやSiP）が組み込まれるようになった。しかしながら、このようなLSIシステムに対応した回路・システム設計技術の進展は十分とは言えず、 多くの課題を抱えている。本講義では、これらの課題について学び、これらの課題を解決する設計自動化技術、特にレイアウト設計、配置配線技術、LSIテスト技術，テスト容易化設計法について理解する。
到達目標	LSI設計に関する体系的な知識を修得すると共に、最先端の技術課題についても理解できる。【知識2、技能1】 英語テキストを利用した学修を行うことで、国際的なコミュニケーションを行うための技術英語を身につけている。【技能2】 輪講による学修を通じて，自らテキストを理解しその内容について考え，他人とその知識を共有することができる。【思考力・表現力、主体性、協働性】
受講要件	前期の計算機支援設計特論と、論理回路・システム特論を受講していることが望ましい。
履修取消の可否	否
履修取消不可の理由	最初の講義時に担当部分の割当を行うため、履修取消は原則ご遠慮ください。
事前・事後学修	事前学修：受講者は予め配布した資料を予習して講義に臨む。特に輪講における説明担当者は予習をしっかりと行うこと。 事後学修：講義で得られた疑問点を明らかにする。
講義内容	以下の内容について、テキストや論文を用い輪講する。輪講とはテキストや論文を受講生で分担し、理解したり調べたことを順々に講義しあう形式である。 １．イントロダクション，SoCのテストの基礎 ２．故障モデル ３．テスト生成手法 ４．テスト容易化設計法：スキャン設計 ５．テスト容易化設計法：低電力スキャン、At-speedスキャン ６．組込自己テスト：アーキテクチャ ７．組込自己テスト：低電力BIST、At-speed BIST ８．テスト圧縮・展開：テスト入力 ９．テスト圧縮・展開：テスト応答 １０．ランダムアクセススキャン １１．配線設計の基礎（配線問題の定義と分類） １２．配線設計の基礎（基本的な配線手法） １３．配線間のクロストークを考慮した配線手法 １４．リソグラフィ工程を考慮した配線手法 １５．ウェハ研磨工程を考慮した配線手法 ※授業の順序は変更することがある。
期末試験実施の有無	実施しない
評価方法・基準	評価方法：授業参加度とレポート課題提出で評価 評価基準： 秀：３つの到達目標を十分達成し，到達目標を超えた極めて優秀な成果をおさめている。 優：３つの到達目標を十分達成している。 良：３つの到達目標を達成している。 可：３つの到達目標を最低限達成している。 不可：３つの到達目標のいづれかが達成できていない。
教科書等	特に指定しない。印刷したテキストや資料を配付する。
担当者プロフィール	授業内容に関する、学生の個別学習相談を随時受け付けています。 教員の所在は、学内サイネージ等に掲示されていますので、確認の上、研究室を訪ねてみてください。 市原：コンピュータの設計・テスト、フォールトトレランスの研究に従事。研究室：情報科学部棟7階　753研究室 稲木：LSI回路の設計自動化、特に自動配置配線設計の研究に従事。研究室：情報科学部棟4階　412研究室
講義に関連する実務経験
課題や試験に対するフィードバック	提出した課題やレポートについて後日講評する。
アクティブ・ラーニング
キーワード	半導体，電子機器，VLSIシステム，集積回路，SoC，設計自動化，レイアウト設計，配置配線技術，LSIテスト，テスト容易化設計法
備考	高等学校教諭 専修免許状 情報 「情報の教科に関する科目」の選択科目