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広島市立大学 
情報科学研究科 
システム工学専攻 

助教 
辻 勝弘 
ツジ カツヒロ 
Tsuji Katsuhiro 

 

経歴
広島市立大学情報科学部助手  1996/04/01-2007/03/31 
広島市立大学大学院情報科学研究科助教  2007/04/01-現在 

免許・資格
第一種衛生管理者  2015/01/23 

研究分野
電子デバイス・電子機器 

研究キーワード
半導体デバイス 
集積回路 
デバイスモデリング 
デバイスシミュレーション 
パラメータ抽出 

論文
研究論文(学術雑誌)  共著  Study on effective MOSFET channel length extracted from gate capacitance  Katsuhiro Tsuji, Kazuo Terada and Hisato Fujisaka  Japanese J. Appl. Phys.  The Japan Society of Applied Physics  57, 016601-1-016601-7  2018/01/01 
研究論文(学術雑誌)  共著  Study on Threshold Voltage Evaluated by Charge-Based Capacitance Measurement  Katsuhiro TSUJI, Kazuo TERADA, Ryo TAKEDA, and Hisato FUJISAKA  IEICE TRANSACTIONS on Electronics  The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers  VOL.E99-C/ NO.4, 466-473  2016/04 
研究論文(学術雑誌)  共著  Development of Test Structure for Variability Evaluation Using Charge-Based Capacitance Measurement  Katsuhiro TSUJI, Kazuo TERADA, and Ryota KIKUCHI  IEICE TRANSACTIONS on Electronics  The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers  VOL.E97-C/ NO.11, 1117-1123  2014/11/01 
研究論文(学術雑誌)  共著  Reconsideration of Effective Channel Length for Metal-Oxide-Semiconductor Field Effect Transistor  Kazuo Terada, Kazuhiko Sanai, Katsuhiro Tsuji  Japanese Journal of Applied Physics  Vol. 53, 064303-  2014/05 
研究論文(国際会議プロシーディングス)  共著  Measurement of Channel Length Variability  Kazuo Terada and Katsuhiro Tsuji  Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD  2013/11 
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研究発表
口頭発表(一般)  Comparison of Channel Length Extracted from Gate Capacitance with That Extracted from Channel Resistance  Proc. Int. Conf. on Microelectronic Test Structures  2014/03 
ポスター発表  Difference in Threshold-Voltage Variability Caused by Measurement Method  Proc. IEEE Workshop on Variability Modeling and Characterization at ICCAD  2012/11 
口頭発表(一般)  実効チャネル長に対するチャネル不純物濃度分布の影響  応用物理学関係連合講演会  2012/03 
ポスター発表  gmばらつきに対する局所VTHゆらぎの影響  応用物理学関係連合講演会  2012/03 
ポスター発表  Threshold Voltage Variation Extracted from MOSFET C-V Curves by Charge-Based Capacitance Measurement  Proc. Int. Conf. on Microelectronic Test Structures  2012/03 
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担当授業科目
e-ラーニング英語III 
物理学概論 
システム工学実験I 
外書講読演習II 
情報活用基礎 
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所属学協会
応用物理学会  1996/09-現在 
電子情報通信学会  1995/08-現在 
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公開講座
研究室見学(11月27日 祇園北高校)  公開講座  2012/11-現在 
研究室紹介(11月30日、祇園北高校)  その他  2011/11-現在 
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